錫須觀察測(cè)量是指在特定環(huán)境下（如高溫、高濕等），對(duì)電子元件的焊點(diǎn)、引腳等部位進(jìn)行觀察，以檢測(cè)錫須的生長(zhǎng)情況，并對(duì)其長(zhǎng)度、形狀等進(jìn)行測(cè)量的過(guò)程。中科檢測(cè)提供錫須觀察測(cè)量服務(wù)，具有CMA,CNAS資質(zhì)。

錫須觀察測(cè)量項(xiàng)目：

錫須類(lèi)型識(shí)別：通過(guò)觀察和測(cè)量，確定錫須的類(lèi)型，如是否為正常錫須、氧化錫須等。

長(zhǎng)度和形態(tài)測(cè)量：使用測(cè)量工具對(duì)錫須的長(zhǎng)度和形態(tài)進(jìn)行精確測(cè)量，以了解其生長(zhǎng)情況。

生長(zhǎng)速率分析：通過(guò)連續(xù)觀察和測(cè)量，計(jì)算并分析錫須的生長(zhǎng)速率，以評(píng)估其生長(zhǎng)狀態(tài)。

生長(zhǎng)方向觀察：觀察并記錄錫須的生長(zhǎng)方向，了解其生長(zhǎng)趨勢(shì)。

生長(zhǎng)機(jī)理研究：通過(guò)觀察和測(cè)量，結(jié)合相關(guān)理論，研究錫須的生長(zhǎng)機(jī)理，為后續(xù)控制和優(yōu)化提供依據(jù)。

對(duì)微電子器件和材料的影響評(píng)估：通過(guò)觀察和測(cè)量，評(píng)估錫須對(duì)微電子器件和材料的質(zhì)量和可靠性的影響。

錫須觀察測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)：

ISO 11464:2017《電子元件用焊料——評(píng)估和表征錫須生長(zhǎng)》

IPC-9708《電子產(chǎn)品中焊料接頭處錫須控制指南》

錫須觀察測(cè)量流程：

準(zhǔn)備工作：在開(kāi)始觀察測(cè)量之前，需要準(zhǔn)備好所需的工具和設(shè)備，例如顯微鏡、錫須測(cè)量尺、記錄本等。同時(shí)，需要了解錫須觀察的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和要求，以便正確地進(jìn)行測(cè)量和記錄。

樣品制備：在開(kāi)始觀察測(cè)量之前，需要對(duì)樣品進(jìn)行制備。一般情況下，需要將待測(cè)錫須樣品固定在觀察臺(tái)上，并進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚?，例如清洗、干燥等，以確保觀察結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

觀察測(cè)量：使用顯微鏡對(duì)錫須樣品進(jìn)行觀察，并使用錫須測(cè)量尺對(duì)錫須的長(zhǎng)度、直徑等參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。在觀察和測(cè)量過(guò)程中，需要注意觀察錫須的生長(zhǎng)情況、形態(tài)特征等信息，并做好記錄。

結(jié)果分析：根據(jù)觀察和測(cè)量的結(jié)果，對(duì)錫須的質(zhì)量進(jìn)行分析和評(píng)估。一般情況下，可以根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和要求對(duì)錫須的長(zhǎng)度、直徑、生長(zhǎng)情況等進(jìn)行評(píng)估，并確定其質(zhì)量等級(jí)。

報(bào)告撰寫(xiě)：根據(jù)觀察和測(cè)量的結(jié)果，撰寫(xiě)相應(yīng)的報(bào)告。報(bào)告中需要包括樣品的基本信息、觀察和測(cè)量的詳細(xì)過(guò)程、結(jié)果分析和評(píng)估等內(nèi)容。同時(shí)，需要確保報(bào)告的準(zhǔn)確性和完整性，以便為后續(xù)的評(píng)估和使用提供可靠的依據(jù)。